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KOMKIA Insights

可测试性设计

可测试性设计

可测试性设计

接入点、边界扫描与自测让板在大批量下可验证而无需返工。

测试接入

为 ICT 与飞针预留探针焊盘与过孔。

边界扫描

JTAG 简化复杂密集板。

内建自测

简单回路在出货前抓故障。

关键要点

关键要点

  • 尽早预留测试点。
  • 密集板用 JTAG。
  • 可行处加自测。
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